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x-ray检测IGBT半导体内部缺陷的优势
发布时间:2020-05-26 09:00:00

IGBT半导体模块是电子制造中最为常见的电子元器件之一,由IGBT和FWD通过特定电路桥接封装而成的频率略低、功率较高的电子元器件,被广泛用于焊机、逆变器、变频器、点解电源、超音频感应加热等领域。


   而且,IGBT还具有节能稳定的优势,是能源转换和传输的核心器件,更被国家级战略产业布局,如轨道交通、智能网建设、航空航天以及新能源领域。


   IGBT半导体模块优点很多,如何确保封装后的IGBT半导体模块是良品,确保存在缺陷的IGBT半导体无法流通进下一个工序,进而提高生产成本和企业效率。IGBT半导体封装模块作业过程中,存在较为复杂的技术工艺,然而如何对封装进行质量鉴定检测成了企业最为无奈的一道工序,在市场竞争不断激烈,产品质量标准不断提升以及成本控制方面需要更大的力度,这也是当下IGBT半导体封装产业急需解决的难题。


    目前的检测方法很多,但越来越受到市场青睐的当属X-RAY检测方式,其采用X光直接穿透产品表面,直接透视产品内部结构,通过对产品内部结构的分析来快速锁定缺陷位置与受损面积尺寸。


    X-RAY可以直观的观察IGBT半导体模块内部有无气泡等缺陷,采用X射线透射原理对IGBT模块进行检测,检测快捷而准确。当X-Ray检测设备透射IGBT模块时,可以直接观察到IGBT模块的内部有无气泡等缺陷,而且还可直接观察到缺陷的位置。


x-ray检测半导体




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